Werbung


Jenoptik zeigt AVT-Leistungen für Wafer bis 300 Millimeter auf der electronica in München

Opto-elektronische Module / Pressebild: Jenaoptik
Opto-elektronische Module / Pressebild: Jenaoptik

(WK-news) – Jenoptik zeigt auf der electronica in München neue Photodioden und erweiterte AVT-Leistungen für Wafer bis 300 Millimeter

Selektive Photodioden mit winkelunabhängigem Empfangsspektrum

Jenoptik hat eine neue Produktreihe selektiver Photodioden mit winkelunabhängigem Empfangsspektrum entwickelt. Im Vergleich zu konventionellen Silizium-Photodioden detektieren die neuen Photodioden einen vordefinierten Wellenlängenbereich ohne einen zusätzlich vorgeschalteten Filter. Zudem ist der spektrale Empfang im Gegensatz zu dielektrischen Filtern vom Einfallswinkel der Strahlung unabhängig.

Die neuen Photodioden eignen sich für alle fotometrischen Anwendungen, bei denen ein erweiterter Messbereich (Dynamikumfang) gefordert ist. Die wellenlängen-selektive Strahlungsdetektion kann nun Platz sparend realisiert werden und eröffnet damit neue Möglichkeiten für miniaturisierte Systeme bei gleichzeitig reduziertem Montageaufwand.

Jenoptik bietet neben kundenspezifischen Lösungen eine breite Produktpalette an Photodioden als vorkonfektionierte Standardprodukte in SMD- und TO-Gehäusen an. Die Photodioden werden aus Materialien wie GaP, AlGaN, AlGaAs, InGaAs oder SiC gefertigt und sind für Spektralbereiche von 150 bis 1750 Nanometern ausgelegt. Sie detektieren wellenlängen-selektiv und zeichnen sich durch ein exzellentes Signal- und Rauschverhalten aus. In hermetisch dichten Spezialgehäusen sind sie bis 125 °C temperaturstabil.

Photodioden sorgen für Sicherheit und sind in der Automobilindustrie sowie in der Sicherheits- und Medizintechnik weit verbreitet. Unter anderem kommen sie bei Tageslicht-Tunnelsensoren oder Spurassistenten in Fahrzeugen zum Einsatz, bei der Überwachung des Sicherheitsniveaus in Gasdetektoren, in der Wasserdesinfektion zur Kontrolle der UV-Strahlungsdosis, als Flammensensoren zur Brennerüberwachung, als Detektor von Lichtschranken und in der Medizintechnik zur Konzentrationsanalyse von Körperflüssigkeiten.

Erweiterter AVT-Prozess für kundenspezifische Bildsensoren
Mit Neuinvestition in den Teilbereichen Wafersägen und Multi-Chip-Bonden hat Jenoptik die AVT-Prozesskette nun auch bis zu 300 Millimeter Wafergröße erweitert. Damit erhalten Jenoptik-Kunden hochpräzise und ökonomische Verarbeitungsprozesse, die auf technologisch höchstem Stand sind.
Die neuen Anlagen sind besonders geeignet für die Herstellung komplexer kundenspezifischer mikroelektronischer Baugruppen, wie beispielsweise bildverarbeitende Sensoren.

Mit der leistungsfähigeren Doppelspindel-Wafersäge ist die Bearbeitung von bis zu 300-Millimeter-Wafern möglich. Das neue System schneidet, reinigt und belichtet die in einem Magazin vorgehalteten Wafer vollautomatisch. Die Auslegung der Säge als Zwei-Spindelsäge reduziert zudem die Zykluszeit um mehr als die Hälfte im Vergleich zu semiautomatischen Verfahren. Durch ihr intelligentes Wasserführungssystem ist die Säge besonders geeignet für die Verarbeitung von Bildsensoren auf Siliziumbasis und optischen Gläsern.

Für die nachfolgende Bearbeitung der 300-Millimeter-Wafer steht Jenoptik ein neuer Multi-Chip-Bonder zur Verfügung. Dieser bietet, abhängig von der Qualität des Ausgangsmaterials, eine Bestückgenauigkeit von bis zu ±10 Mikrometer und kann Chips von 0,2 bis 80 Millimeter Kantenlänge verarbeiten.

Der Vorteil von 300 Millimetern Wafer-Ausgangsmaterial liegt im geringeren geometrischen Verschnitt. Entsprechend ergibt sich – abhängig von der geforderten Chip-Größe – eine deutlich höhere Ausbeute je Wafer. Das senkt die Herstellkosten im Vergleich mit kleineren Wafer-Durchmessern deutlich.

Stellvertretend für die Leistungsfähigkeit des Geschäftsbereichs Optoelektronische Systeme zeigt Jenoptik am Stand zur Messe electronica Beispielprodukte auf Basis der integrierten Wertschöpfung – von der Wafer-Bearbeitung bis zur kompletten mikroelektronischen Baugruppe einschließlich Software. Darüber hinaus präsentiert das Unternehmen Produkte aus dem Bereich der digitalen Bildverarbeitung –  von applikationsangepassten CMOS-Imaging Modulen bis hin zu Mikroskopkameras der ProgRes®-Reihe und die Möglichkeiten integrierter kundenspezifischer Bildverarbeitungssysteme.

Besuchen Sie uns vom 13. bis 16. November 2012 zur electronica in München, in Halle 4, am Stand 575.
Wir freuen uns auf Ihren Besuch!

PM: Jenoptik








Top