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Das standardisierte Verfahren erleichtert die Qualitätskontrolle in der Solarindustrie. (WK-intern) - Für die Festigkeitsprüfung von Photovoltaikwafern hat das Fraunhofer-Center für Silizium-Photovoltaik CSP gemeinsam mit der Hochschule für Technik, Wirtschaft und Kultur Leipzig (HTWK Leipzig), regionalen Industriepartnern und dem Deutschen Institut für Normung DIN eine DIN SPEC entwickelt. Mit der DIN SPEC 91351:2017-04 »Strength Testing für Photovoltaic Wafers« kann eine vereinheitlichte Festigkeitsprüfung von 120 bis 220 µm dünnen Siliziumplatten, sogenannten Wafern, für Photovoltaik-Zellen und -Module vorgenommen werden. Dabei wird mit einem standardisierten Biegeversuch festgehalten, bei welcher Krafteinwirkung ein Wafer aus kristallinem Silizium bricht. Die Prüfung ist nötig, weil das spröde Material sehr bruchempfindlich ist